《科技》搶攻5G商機 愛德萬測試推IC記憶體測試機

【時報記者林資傑台北報導】半導體測試設備廠愛德萬測試（Advantest）發表最新多功能H5620ES工程測試系統，針對現今實驗室環境DDR4、次世代DDR5和低功率LPDDR裝置進行高速預燒及測試。由於精簡配件數量、縮短預燒及測試間的所需時間，可降低5G應用先進記憶體裝置的測量成本。 愛德萬測試表示，此款工程測試系統能針對DDR4和DDR5進行平行測試，並容納頻率100-MHz、資料傳輸率200Mbps的記憶體晶片，針對產品開發工作進行使用優化，精巧的設計能節省空間，讓實驗室環境更機動。 愛德萬測試指出，H5620ES跟H5620生產單元都採用FutureSuite作業系統，測試波形相同。並支援預先測試（pre-testing routines），在轉移到H5620測試機前，可先在H5620ES系統進行檢查，藉以縮短生產周期時間。 愛德萬測試記憶體ATE事業群副總Takeo Miura表示，快速成長的5G市場對最新資料儲存IC的需求量大增，此次新發表的H5620ES系統能協助業者，大幅精簡產品開發與品質提升所需要的成本。H5620ES工程系統預計於本會計年度第二季開始出貨。