《半導體》打造晶片專屬「指紋」,力旺獲ISSCC肯定

【時報記者王逸芯台北報導】力旺 (3529) 宣布其「A PUF Scheme Using Competing Oxide Rupture with Bit Error Rate Approaching Zero」榮獲國際固態電路學術研討會(ISSCC) Takuo Sugano Award 傑出論文獎肯定,該論文所揭露的就是全新半導體技術,利用半導體製程中的細微差異,產生每片晶片獨一無二、無法複製的「指紋」。力旺本次發表的該技術,為一不可複製領域中的創新突破。

力旺本次得獎論文「A PUF Scheme Using Competing Oxide Rupture with Bit Error Rate Approaching Zero」是揭露一全新半導體技術,利用半導體製程中的細微差異,產生每片晶片獨一無二、無法複製的「指紋」,為物理性不可複製功能(Physical Unclonable Functions,PUF)領域一大創新突破,並將此技術命名為NeoPUF。

NeoPUF由特殊記憶體陣列架構(Cell Array Architecture)以及通過認證的安全性線路設計所組成,具有完美隨機性(Randomness)以及獨特性(Uniqueness)兩項優異特性,獨家專利設計能以硬體的方式產生高達64千位元的隨機亂碼,並在不需要使用輔助資料運算(Helper Data)的情況下就能達到零錯誤率(Zero Bit Error Rate)。

NeoPUF技術取自CMOS標準邏輯元件,可廣泛用於各種邏輯製程,而且不需要昂貴的錯誤校正措施(Error Correction)。經測試證明,NeoPUF技術在-40°C到+150°C之間均呈現相當穩定的表現,不受製程或操作環境中的溫度與電壓影響,並已於7nm先進製程完成可靠度驗證且有客戶導入試產。

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NeoPUF提供金鑰生成(Key Provisioning)、加密引擎(Crypto Engine)、防篡改保護(Tamper Protection)區塊,當IC產品設計內嵌NeoPUF,可在晶片設計及製造階段就提供最根本的硬體防護。此外,NeoPUF亦可應用於元件信任根(Device Root of Trust),支援安全啟動(Secure Booting)防護等用途,相當適合人工智慧、物聯網及車聯網等高安全需求晶片。

國際固態電路學術研討會(ISSCC)為全球先進固態電路領域研發的領先指標,有晶片設計領域奧林匹克大會之美稱,而Takuo Sugano為日本半導體產業權威,亦為ISSCC重要專家會員,Takuo Sugano Award即是ISSCC以其名所設,用以表彰半導體技術發展之卓越成就。